1.1:高精度孔径测量的工业需求与计量挑战
现代精密制造业,尤其是在航空航天、汽车动力总成、液压元件和高精度轴承等领域,对工件的内径尺寸和形位公差提出了严苛的要求。微米乃至亚微米级的公差带控制是确保产品功能、互换性和长期可靠性的关键。传统的测量手段,如游标卡尺和普通内径千分尺,往往难以满足生产线上对测量速度和精度一致性的双重需求。这些工具的精度容易受到阿贝误差的影响,且测量结果与操作者的技能水平高度关联。
在这一背景下,塞规式测量系统应运而生,成为一种高效且高可靠性的孔径测量解决方案。设计专门用于解决现场快速测量中对中困难和操作者引入的系统误差问题,从而确保在生产环节中实现高重复性的尺寸验证。
1.2 塞规式测量系统的定义、核心原理与关键技术指标概述
塞规式测量系统是一种专用于孔径测量的、基于比对法的精密计量工具。其核心优势在于通过与已知尺寸的标准件进行比对,将复杂的绝对尺寸测量转化为精确的差值测量。
该系统通常由四个关键部分组成:用于显示测量数据的指示表(可以是数显或机械表针式)、用于操作者握持的手柄、伸入孔径内进行测量的测头,以及用于系统校准和基准设定的校对环规。
工作原理——比对法: 在测量开始前,操作者必须将测头置入尺寸已知且经过严格校准的校对环规(Setting Master Ring)中,并将指示表设定为基准值(通常为零点)。随后,将已定基准的测头放入待测工件孔径中,指示表上显示的数值即为待测孔径尺寸与环规标称尺寸之间的偏差值。通过这种差值测量方式,可以快速、准确地获得工件的实际尺寸信息。
核心技术参数:
塞规式测量系统凭借其结构设计实现了卓越的性能,主要技术指标反映了其在精密测量中的高标准:


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