K110T 数显厚度测量卡规

测量范围：0 到 10 毫米

指示精度：0.005 毫米

测量深度：最大 35 毫米

K110T 厚度测量卡规是一种数显式测量工具，用于测量厚度为 0 到 10 毫米的薄片。这种卡规广泛应用于各个领域，包括泡沫厚度测量、薄片厚度测量、金属厚度测量和板材厚度测量等。无论是在生产线上还是在实验室中，K110T数显厚度测量卡规都能提供准确可靠的测量结果，是厚度测量的理想工具。

K220T 厚度测量卡规

测量范围：0 到 20 毫米

指示精度：0.01 毫米

测量深度：最大 85 毫米

K220T数显厚度测量卡规采用数显式显示方式，使得测量结果更加直观准确。用于测量厚度为 0 到 20 毫米的薄片。 

K220T 厚度测量卡规广泛用于工业、制造、精密仪器等领域。

K330T 厚度测量卡规

测量范围：0 到 30 毫米

指示精度：0.01 毫米

测量深度：最大 116 毫米

K330T 厚度测量卡规是一种数显式测量工具，用于测量厚度为 0 到 30 毫米的薄片。

K450T 厚度测量卡规

测量范围：0 到 50 毫米

指示精度：0.01 毫米

测量深度：最大 167 毫米

K450T 厚度测量卡规是一种数显式测量工具，用于测量厚度为 0 到 50 毫米的厚度。

详情请询：北京地泰科盛